電科院技能比武大賽指定熒光光譜儀技術規格
X射線熒光光譜儀用于測量電鍍層的厚度,以及測量電鍍液的溶液成份,相對于普通手提式磁性鍍層測厚儀或者渦流厚度測試儀,X射線熒光光譜儀有著無可比擬的優勢,可以測量多鍍層,可以測量非常薄和細小的工件,對基材沒有要求等特點。電科院技能比武大賽中對于x射線測厚儀的熟練使用是必備技能。其指定使用機器技術參數規格如下:
名稱
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單位
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參數
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X射線發射裝置
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kV
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X射線源為帶鈹窗口的鎢管。三種高壓: 30 ,40 ,50 ,可切換
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探測器
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比例接收器
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X-RAY測量系統
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1 功能滿足表面鍍層厚度測試、5種元素含量分析
2 元素測量范圍:Cl(17)到U(92)之間的元素;(頂層)
3 可以對合金含量無損定量分析;
*4 無損測量鍍層時不受底材影響;
*5 可以進行無標準片測量,內部設定12純元素頻譜庫
*6 無標準片可以建立測量程式,當公司產品有新的鍍種需測量時,可以添加新的測量程式,且廠家可免費提供此項服務
*7 儀器有”mq”值顯示
*8 可以測量凹陷0—80mm的工件
*9 X射線源為帶鈹窗口的鎢管。三種高壓:30 kV,40 kV,50
kV,可切換;
10 頂層厚度>0.5μm,經標準片校正后,測量精度≤5%;無標準片校正,測量精度≤10%。
*11 分析電鍍液內金屬 離子濃度(需選配電鍍液分析附件)。
*12 測量方向:由上往下,非接觸式測量;
13 視頻顯微鏡,高分辨CCD彩色攝像頭,用于查看測量位置,手動調焦: 十字線刻度和測量點大小經過校準測量區域照明亮度可調。
14 放大倍數范圍少:40x~160x
(光學變焦: 40x; 數字變焦:
1x, 2x, 3x, 4x)
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X-Y-Z軸紫銅
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1 樣品工作臺:可手動調節的X/Y軸平臺,便于放置超大超長的樣品??捎脴悠贩胖脜^域不小于:長420mm x 寬450mm;X/Y平臺大移動范圍不小于95×150mm
2 Z軸馬達驅動,大移動范圍140mm,配備有激光定位點。
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準直器
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mm
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圓形φ0.3
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系統軟件
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1 WinFTM Light 軟件
2 設備配備中文友好操作界面,滿足鍍層厚度測試、元素分析應用;
3 軟件具備統計過程控制(SPC)功能;
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標準片
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校驗標準塊套件 Ag/Ni
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統計功能
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具備統計及SPC功能。輸入統計參數,便可制作比例圖,累積或然率圖并分別顯示鍍層厚度及含量等資料
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輻射**
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*環保廳輻射豁免函
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操作語言
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英語,德語,法語,意大利語,西班牙語,
及中文
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使用環境
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℃
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使用時溫度10– 40
存儲或運輸時溫度0– 50
空氣相對濕度≤ 95 %,無結露
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資質要求及標準
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DIN ISO 3497和ASTM B 568 X射線標準
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質保期
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一年
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儀器重量
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kg
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107
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需求一覽表
序號
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儀器儀表名稱
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單位
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要求
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產品型號
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數量
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1
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熒光光譜儀
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臺
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1
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2
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標準片
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套
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Ag/Ni
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1
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如上所述,此款技術參數對應的為德國菲希爾fischer公司的XDL-230機型。
其他測試儀器:瑞典蘭寶紫外線燈、鐵素體測試儀。