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產品圖片	產品名稱/型號	產品簡單介紹
	菲希爾便攜式x射線測厚儀 Fischer Fischescope x-ray XAN 500	菲希爾便攜式x射線測厚儀/費希爾手持式射線鍍層分析儀/菲希爾熒光光譜儀Fischer Fischescope x-ray XAN 500是德國菲希爾公司眾多臺式x-ray光譜儀中一款便攜設計機型，可用于快速、無損地進行鍍層測厚及材料分析。完全滿足DIN ISO 3497標準和ASTM B 568標準。作為一款手持式XRF分析儀，常適合在生產線上檢查大型零件（如飛機零件，管道或渦輪葉片）上的鍍層。
	無核密度檢測儀 LA-4114型	無核密度檢測儀/土壤無核密度儀/無核密濕度儀/無核儀LA-4114型英文俗稱EDG，是一種可替代核子密度儀，測量路基和地基壓實土壤之物理特性的無核測量儀。無核密度檢測儀EDG可測量并顯示干/濕密度、含水量，以及壓實百分數。EDG使用簡便，可以作為建筑用輔助設備來監控每日的壓實操作，其上等的工作性能和準確的測量結果可以與傳統測量法，如核子密度測量法，灌砂法，以及干燥法相媲美。
	便攜式合金光譜分析儀 SciAps XRF X-50	便攜式合金光譜分析儀/合金元素含量檢測儀/手持式光譜儀SciAps XRF X-50為現場金屬材料分析，野外礦物元素分析及土壤重金屬分析而研發的一款手持元素分析設備，SciAps XRF X-50便攜式合金光譜分析儀采用*的X射線熒光技術，分析速度快，結果準確，操作簡單，整體設計適用野外高溫，雨淋，多塵等多變的作業環境。
	費希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀 FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237	費希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x-ray厚度測試儀/射線鍍層厚度檢測儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237是一款應用廣泛的能量色散型射線熒光材料分析及鍍層測厚儀。它尤其適合在自動化測量應用中無損測量超薄鍍層厚度和分析材料。FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237費希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀配備可編程運行XY軸工作臺及Z軸升降系統，全自動測量超薄鍍層厚度和分析材料成分。
	菲希爾x射線熒光鍍層厚度及ROSH檢測儀 FISCHERSCOPE ? X-RAY XDV ? -SDD	菲希爾x射線熒光鍍層厚度及ROSH檢測儀/X-RAY射線光譜測厚儀/X射線分析儀FISCHERSCOPE ® X-RAY XDV ®-SDD是FISCHER產品中性能zui強大的X射線熒光儀器之一。菲希爾x射線熒光鍍層厚度及ROSH檢測儀XDV-SDD配備了特別加大的硅漂移探測器（SDD）。50mm²的探測器窗口確保能快速而精-確地測量甚是小面積的測量點。此外，XDV-SDD儀器還配備了各種不同的濾波片，從而能為不同的測量任務建立*優化的激發條件。XDV-SDD可以測量含量低于1000ppm的如汞、鉛等有害金屬元素。
	手持式XRF熒光光譜儀 X-MET8000S	手持式XRF熒光光譜儀/手持式合金成分分析儀/元素含量檢測儀X-MET8000S由Oxford Instruments下屬的工業產品分公司研究、設計和制造，世界500強日立公司于2017年7月收購了牛津儀器工業分析部門，牛津手持光譜儀品牌正式更名為日立儀器HITACHI。手持式XRF熒光光譜儀X-MET8000S型是一款為客戶量身定做的X射線的熒光光譜儀。它集速度，準確，堅固和易用為一體，加上硬件，軟件的多年行業經驗，滿足你對檢測的所有要求。
	菲希爾x-ray熒光光譜儀 FISCHERSCOPE ?X-RAY XDL ?230	菲希爾x-ray熒光光譜儀/x射線測厚儀/光譜測厚儀/射線鍍層檢測儀FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230是德國菲希爾fischer公司XDL系列機型中性價比*高的一款，相比XDL-210*主要的優勢在于X軸和Y軸方向可以手動調節，大大方便了測量的便捷性。菲希爾x-ray熒光光譜儀XDL-230還可以通過可編程XY工作臺與Z軸（可選）實現自動化的批量測試。XDL-230菲希爾x-ray熒光光譜儀以優異的性能被選為國內各省電科院/國家電網技能比武指定使用機型。
	x射線熒光鍍層測厚儀 牛津X-strata 920	英國牛津X-strata 920型x射線熒光鍍層測厚儀/x-ray光譜儀是一款結構緊湊、堅固耐用、用于質量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備，也是一款操作簡單的質量控制分析儀，滿足鍍層厚度測量和材料分析。牛津X-strata 920型x射線熒光鍍層測厚儀/x-ray光譜儀在工業領域如電子行業、五金電鍍行業、金屬合金行業及貴金屬分析行業表現出的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。
	X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 FISCHERSCOPE? X-RAY XDLM? 237	X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀/X射線測厚儀/熒光膜厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® 237是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。這款儀器專門是為測量分析極薄鍍層和超小含量而設計，是用于質量控制，質量檢驗和生產監控的合適的測量儀器。
	X-RAY熒光測厚儀 X-RAY XULM	X-RAY熒光測厚儀、X射線熒光法是高效的材料分析工具。它廣泛應用于鍍層厚度測量，同時也適于進行元素分析。 X-RAY熒光測厚儀|x射線測厚儀|x熒光光譜儀|熒光光譜分析可以對幾乎任意尺寸和狀態的工件進行分析。粉末和糊狀材料可以和固體或液體一樣進行分析。
	X射線測厚儀 FISCHERSCOPE? X-RAY XDL? 210	X射線測厚儀|X-RAY鍍層分析儀|菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210是一款應用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發展而來的。與上一代相類似，它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析，同時還能全自動測量大規模生產的零部件及印刷線路板。