1、何時使用 FISCHER X 射線儀器的標準化？
標準化將導致針對當前設置或新基質的測量任務調整。修改主濾光鏡、陽極電流或準直器時必須執(zhí)行該操作。如果合金成分或樣品的基質已改變，也需要執(zhí)行該操作。
2、我的 FISCHER X 射線儀器似乎測量出了不太合理的值。我如何確定我的測量是正確的？
您應該選擇測量設備監(jiān)控。您將通過重新測量校準標準對測量儀器進行檢查。如果與正確值不匹配，則需要進行調整。
3、對于 FISCHER X 射線儀器而言，參考測量代表什么？
參考測量是能量軸的新校準值。這與正比計數(shù)器的校正有關，并受溫度的影響。
4、如何檢查 FISCHER X 射線儀器上的校準？
為了檢查校準，有必要在菜單位置“產(chǎn)品”，“測量校準標準”中重新測量校準標準。如果發(fā)現(xiàn)任何偏差，則需要對儀器進行重新校準。
5、X 射線測量的測量點有多大？
測量點取決于準直器與測量距離。典型值為：30 μm - 3mm。
6、FISCHER X 射線儀器是否具有輻射保護？
我們的大多數(shù)儀器均為保護措施齊全的儀器，其設計符合德國 X 射線條例。
7、使用 X 射線法可以測量什么？
可以測量小原子數(shù)為 11 的元素以及約 0.005
μm 到 60 μm 的涂層厚度。這取決于環(huán)境介質（空氣、氦、真空）、探測器、測量點大小以及原子數(shù)，當然還有應用。
8、掩碼“數(shù)據(jù)導出”代表什么？
通過導出掩碼可以定義將導出哪些參數(shù)以及發(fā)送數(shù)據(jù)的時間和目的地。然后測量數(shù)據(jù)將導出為文本文件。
9、在校準期間是否能夠堆疊 X 射線校準箔？
是的，可以。有一個大致的使用原則：對于正比計數(shù)器，可以使用 2-3 個箔。對于配有
PIN/SDD 探測器的儀器，可使用 1 個箔。
10、是否需要為 FISCHER X 射線儀器重新認證板的純元素？
不需要。您無需重新認證板，因為元素具有飽和厚度，因此非常穩(wěn)定。
