產(chǎn)品[
泛美測厚儀探頭單晶探頭
]資料
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產(chǎn)品名稱:
泛美測厚儀探頭單晶探頭
產(chǎn)品型號:
V260-SM M2008 M316-SU
產(chǎn)品展商:
美國泛美panametrics
關(guān)注指數(shù):2014
產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹
泛美測厚儀探頭單晶探頭對塑料、金屬、復合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料進行厚度的測量，泛美公司提供各種頻率、直徑和連接器類型的單晶探頭。例如用戶要將45MG儀器與單晶探頭配合使用，則必須購買單晶軟件或高穿透軟件選項。在使用頻率范圍為2.25 MHz到30 MHz的單晶探頭時，單晶軟件選項可顯示分辨率高達0.001毫米（0.0001英寸）的測量值
泛美測厚儀探頭單晶探頭的詳細介紹
泛美測厚儀探頭單晶探頭可以測量金屬、塑料、復合材料、玻璃、陶瓷及其它材料的厚度。泛美單晶探頭配合高穿透軟件選項用于測量玻璃纖維、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。測量厚度、聲速或渡越時間，自動調(diào)用默認設(shè)置和自定義設(shè)置用于當前應(yīng)用的功能簡化了厚度測量操作。
泛美測厚儀探頭單晶探頭單晶軟件選項
用戶使用單晶軟件選項，可以完成分辨率高達0.001毫米或0.0001英寸的極為的厚度測量。這個選項可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
大多數(shù)薄材料和厚材料
壁厚薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道及薄片材料
壁厚薄如0.10毫米（0.004英寸）的金屬容器、鋼圈板、機加工部件
汽缸孔、渦輪葉片
玻璃燈泡、瓶子
薄壁玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復合材料
曲面部分或內(nèi)圓角半徑較小的容器
泛美測厚儀探頭單晶探頭單晶高穿透軟件選項
用戶使用這個選項可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測量橡膠、玻璃纖維、鑄件及復合材料等較厚或聲波衰減性較強的材料。 這個選項包含單晶選項。
大多數(shù)較厚或聲音衰減性較強的材料
厚鑄造金屬部件
厚橡膠輪胎、履帶
玻璃纖維船體、儲存罐
復合材料板
對于頻率范圍為0.5 MH到1.0 MHz的探頭，分辨率為0.01毫米（0.001英寸）
高穿透軟件選項可以對很多鑄造金屬部件及聲波衰減性極強的材料進行測量。
泛美測厚儀探頭單晶探頭應(yīng)用設(shè)置調(diào)用
應(yīng)用設(shè)置調(diào)用功能簡化了厚度測量操作。用戶在選擇了任何一個存儲探頭后，45MG測厚儀即會調(diào)出所有與這個內(nèi)置探頭相關(guān)的參數(shù)。
存儲的標準設(shè)置
例如45MG儀器帶有21個標準單晶探頭設(shè)置，可用于常用的測量操作。這些默認探頭設(shè)置可用于各種各樣的厚度測量應(yīng)用。
存儲的自定義設(shè)置
45MG還可存儲多35個自定義單晶探頭的設(shè)置，其中還包括校準信息。用戶可以連接適當?shù)奶筋^，并調(diào)用設(shè)置文件，然后儀器便可進行厚度測量，甚還可完成復雜的測厚應(yīng)用。
泛美測厚儀探頭單晶探頭材料聲速測量
例如45MG儀器可以測量材料的聲速。在材料聲速與其它屬性密切相關(guān)的應(yīng)用中，這個標準功能非常有用。典型的應(yīng)用包括監(jiān)控鑄造金屬的球化程度，以及監(jiān)控復合材料/玻璃纖維的密度變化。
縮減率測量，差值模式和縮減率模式是45MG的標準功能。差值模式顯示實際厚度與預先設(shè)定的厚度值之間的差異。縮減率計算并顯示材料厚度變薄以后厚度縮減的百分比。對經(jīng)過彎曲變形并將制成車身面板的薄鋼板進行的縮減率測量是一個典型的應(yīng)用。
泛美測厚儀探頭單晶探頭分類如下：
接觸式探頭
|
頻率
|
晶片直徑
|
探頭
|
工件編號
|
|
mm
|
in.
|
|
0.5
|
25
|
1.00
|
M101-SB*
|
U8400017
|
|
1.0
|
25
|
1.00
|
M102-SB*
|
U8400018
|
|
1.0
|
13
|
0.5
|
M103-SB*
|
U8400020
|
|
2.25
|
13
|
0.5
|
M106-RM
|
U8400023
|
|
M106-SM
|
U8400025
|
|
2.25
|
13
|
0.5
|
M1036
|
U8400020
|
|
5.0
|
13
|
0.5
|
M109-RM
|
U8400027
|
|
M109-SM
|
U8400028
|
|
5.0
|
6
|
0.25
|
M110-RM
|
U8400030
|
|
M110-SM
M110H-RM**
|
U8400031
U8400029
|
|
10
|
6
|
0.25
|
M112-RM
M112-SM
|
U8400034
U8400035
U8400033
|
|
M112H-RM**
|
U8400033
|
|
10
|
3
|
0.125
|
M1016
|
U8400015
|
|
20
|
3
|
0.125
|
M116-RM
|
U8400038
|
|
M116-SM
|
U8400039
|
|
20
|
3
|
0.125
|
M116H-RM**
|
U8400037
|
*這些探頭只能與高穿透軟件選項一起使用。
**需使用彈簧加載支架。
Sonopen 探頭
Sonopen探頭的延遲塊可以更換，其端部為錐形，可接觸到極其狹窄的區(qū)域。這種探頭可以在測量渦輪葉片厚度及塑料容器的內(nèi)圓角的厚度等應(yīng)用中提供可靠的厚度讀數(shù)。
Sonopen - 15 MHz，3 mm（0.125 in.）探頭
|
平直手柄
|
直角手柄
|
45°手柄
|
|
工件
|
工件
編號
|
工件
|
工件
編號
|
工件
|
工件
編號
|
|
V260-SM
|
U8411019
|
V260-RM
|
U8411018
|
V260-45
|
U8411017
|
Sonopen - 可替換的延遲塊
|
直徑
|
工件
|
工件
編號
|
|
mm
|
in.
|
|
2.0
|
0.080
|
DLP-3
|
U8770086
|
|
1.5
|
0.060
|
DLP-302
|
U8770088
|
|
2.0
|
0.080
|
DLP-301†
|
U8770087
|
†高溫延遲，可用于高達175°C的溫度。
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M110-RM
U8400030
M110-SM
M110H-RM**
U8400031
U8400029
10
6
0.25
M112-RM
M112-SM
U8400034
U8400035
U8400033
M112H-RM**
U8400033
10
3
0.125
M1016
U8400015
20
3
0.125
M116-RM
U8400038
M116-SM
U8400039
20
3
0.125
M116H-RM**
U8400037
*這些探頭只能與高穿透軟件選項一起使用。
**需使用彈簧加載支架。
水浸探頭
Panametrics Microscan水浸探頭的設(shè)計目的是在水中傳播并接收超聲波。當被測樣件的幾何形狀較為復雜或進行在線檢測時，通過水浸技術(shù)獲得的厚度讀數(shù)通常更為可靠。典型的離線應(yīng)用包含對小直徑塑料或金屬管件的壁厚測量，掃查或旋轉(zhuǎn)測量，以及對大幅彎曲的樣件進行的厚度測量。在某些應(yīng)用中可能需要探頭觸及到極其狹小的區(qū)域。
|
頻率
（MHz）
|
晶片直徑
|
探頭
|
工件編號
|
|
mm
|
in.
|
|
2.25
|
13
|
0.50
|
M306-SU
|
U8410027
|
|
5.0
|
13
|
0.50
|
M309-SU
|
U8420001
|
|
5.0
|
6
|
0.25
|
M310-SU
|
U8420004
|
|
10
|
6
|
0.25
|
M312-SU
|
U8420008
|
|
15
|
6
|
0.25
|
M313-SU
|
U8420009
|
|
20
|
3
|
0.125
|
M316-SU
|
U8420011
|
RBS-1水浸箱
RBS-1水浸箱的設(shè)計目的是簡化利用水浸技術(shù)的超聲測厚操作。
延遲塊探頭
Microscan延遲塊探頭可在測量極薄材料，溫度極高，或要求極高厚度分辨率的應(yīng)用中，發(fā)揮的測量性能。
|
頻率
（MHz）
|
晶片
直徑
|
探頭
|
工件
編號
|
支架
|
工件
編號
|
|
mm
|
in.
|
|
0.5
|
25
|
1.00
|
M2008*
|
U8415001
|
-
|
-
|
|
2.25
|
13
|
0.50
|
M207-RB
|
U8410017
|
-
|
-
|
|
5.0
|
13
|
0.50
|
M206-RB
|
U8410016
|
-
|
-
|
|
5.0
|
6
|
0.25
|
M201-RM
|
U8410001
|
-
|
-
|
|
5.0
|
6
|
0.25
|
M201H-RM
|
U8411030
|
2127
|
U8770408
|
|
10
|
6
|
0.25
|
M202-RM
|
U8410003
|
-
|
-
|
|
M202-SM
|
U8410004
|
|
10
|
6
|
0.25
|
M202H-RM
|
U8507023
|
2127
|
U8770408
|
|
10
|
3
|
0.125
|
M203-RM
|
U8410006
|
-
|
-
|
|
M203-SM
|
U8410007
|
|
20
|
3
|
0.125
|
M208-RM
|
U8410019
|
-
|
-
|
|
M208-SM
|
U8410020
|
|
20
|
3
|
0.125
|
M208H-RM
|
U8410018
|
2133
|
U8770412
|
|
20
|
3
|
0.125
|
M2055**
|
U8415013
|
-
|
-
|
|
30
|
6
|
0.25
|
V213-BC-RM**
|
U8411022
|
-
|
-
|
*這些探頭只能與高穿透軟件選項一起使用。
**這些探頭中的延遲塊不能替換。
可替換的延遲塊
延遲塊的作用是在被測樣件表面與探頭晶片之間充當保護性緩沖器。
|
晶片
直徑
|
延遲塊
|
大厚度
測量極限*
|
|
mm
|
in.
|
工件
|
工件
編號
|
鋼- 模式2
|
鋼- 模式3
|
塑料- 模式2
|
|
mm
|
in.
|
mm
|
in.
|
mm
|
in.
|
|
13
|
0.50
|
DLH-2
|
U8770062
|
25
|
1.0
|
13
|
0.5
|
13
|
0.5
|
|
6
|
0.25
|
DLH-1
|
U8770054
|
25
|
1.0
|
13
|
0.5
|
13
|
0.50
|
|
3
|
0.125
|
DLH-3
|
U8770069
|
13
|
0.5
|
5
|
0.2
|
5
|
0.2
|
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