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涂鍍層測厚儀的測量原理
涂鍍層測厚儀的測量原理
常規便攜式的涂鍍層測厚儀的測量原理有兩種:電磁感應法和電渦流法。
電磁感應法是
當磁性金屬表面覆蓋有非磁性金屬或絕緣層
(
如鋼件上的鍍鉻層或油漆層
)
時
,
同樣可以利用電磁感應方法來測量其厚度。當線圈中通過激勵電流時
,
檢測線圈和磁性基體之間建立了磁通路
,
由于線圈和磁性基體之間間隙的變化
(
即非磁性膜層厚度的影響
) ,
會改變磁路的磁陰
,
并引起磁路中磁通量的變化
,
因此
,
只要通過檢測線圈上感應電壓的測量
,
得出感應電壓與間隙
(
即膜厚
)
的定量關系曲線
,
再將其標記在指示儀表的表盤上
,
以后便可直接從指示儀表上讀出膜層的厚度。
電渦流法是
測量金屬薄板厚度時
,
檢測線圈既可以采用反射法也可以采用透射法。反射法是探頭的發射與接收線圈在被測體的同一側
,
所接收的信號是阻抗幅度變化信號
,
材料厚度的變化對接收線圈阻抗變化呈非線性關系。因此
,
要求在測量儀器內部實現非線性校正
,
所以
,
會產生較大的測量誤差。透射法是根據探頭線所產生的渦流場分布情況
,
即在不同深度下渦流相位滯后程度隨深度增加而增大
,
根據接收信號與激勵信號之間的相位差直接得到被測材料厚度值
,
無需進行非線性校正。
總的來說
厚度測量的應用主要有兩個方面
:
金屬基體上膜層厚度的測量和金屬薄板厚度的測量。非磁性金屬上絕緣層厚度的測量
,
是渦流測厚的一個重要應用領域。由于非磁性金屬均為導電率較高的有色金屬
,
所以
,
測量其表面絕緣層厚度實質上是測量探頭線圈到基體金屬的距離。為了抑制基體金屬電導率變化對測量結果的影響
,
一般都選用較高的檢測頻率
,
此時
,
基體電導率對電感分量的影響可以忽略
,
而對電阻分量的影響仍較為顯著。又由于電感分量主要受距離變化的影響。電阻分量主要受電導率變化的影響
,
因此
,
只要從電路上將探頭阻抗變化信號的電感量取出
,
再進行調零和校正
,
就可測量出絕緣層厚度的變化。
蘇州圣光主要生產和經營
鐵素體測試儀
(
鐵素體測量儀
、
鐵素體含量檢測儀
、
鐵素體測定儀
Ferrite meter或Ferrite Determ)、
超聲波探傷儀
、
紫外線燈
、x射線測厚儀(x-ray鍍層測厚儀、熒光測厚儀、x射線光譜儀)以及特殊測厚儀如高溫測厚儀,及其配件高溫探頭,
高溫耦合劑
等等,歡迎新老客戶來電咨詢。
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