1、何時使用 FISCHER X 射線儀器的標準化？
標準化將導致針對當前設置或新基質的測量任務調整。修改主濾光鏡、陽極電流或準直器時必須執行該操作。如果合金成分或樣品的基質已改變，也需要執行該操作。
2、我的 FISCHER X 射線儀器似乎測量出了不太合理的值。我如何確定我的測量是正確的？
您應該選擇測量設備監控。您將通過重新測量校準標準對測量儀器進行檢查。如果與正確值不匹配，則需要進行調整。
3、對于 FISCHER X 射線儀器而言，參考測量代表什么？
參考測量是能量軸的新校準值。這與正比計數器的校正有關，并受溫度的影響。
4、如何檢查 FISCHER X 射線儀器上的校準？
為了檢查校準，有必要在菜單位置“產品”，“測量校準標準”中重新測量校準標準。如果發現任何偏差，則需要對儀器進行重新校準。
5、X 射線測量的測量點有多大？
測量點取決于準直器與測量距離。典型值為：30 μm - 3mm。
6、FISCHER X 射線儀器是否具有輻射保護？
我們的大多數儀器均為保護措施齊全的儀器，其設計符合德國 X 射線條例。
7、使用 X 射線法可以測量什么？
可以測量小原子數為 11 的元素以及約 0.005
μm 到 60 μm 的涂層厚度。這取決于環境介質（空氣、氦、真空）、探測器、測量點大小以及原子數，當然還有應用。
8、掩碼“數據導出”代表什么？
通過導出掩碼可以定義將導出哪些參數以及發送數據的時間和目的地。然后測量數據將導出為文本文件。
9、在校準期間是否能夠堆疊 X 射線校準箔？
是的，可以。有一個大致的使用原則：對于正比計數器，可以使用 2-3 個箔。對于配有
PIN/SDD 探測器的儀器，可使用 1 個箔。
10、是否需要為 FISCHER X 射線儀器重新認證板的純元素？
不需要。您無需重新認證板，因為元素具有飽和厚度，因此非常穩定。
