庫侖法電位差/多層鎳測(cè)試儀/法拉第測(cè)厚儀COULOSCOPE® CMS STEP對(duì)多層涂鍍層系統(tǒng)的電位差測(cè)試，以及用于金屬或非金屬基材上所有的金屬涂鍍層的庫侖電量涂鍍層厚度測(cè)量（單層或多層系統(tǒng)）。分步測(cè)量 (Simultaneous Thickness and Electrochemical Potential) 是一種已定型很久的測(cè)試方法，用來測(cè)定多層鎳鍍層系統(tǒng)中各個(gè)單個(gè)的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學(xué)電位差。在電鍍工業(yè)中，對(duì)多層鎳的測(cè)量變得越來越重要了，例如雙層鎳的測(cè)量已成為一種標(biāo)準(zhǔn)的操作。
庫侖法電位差/多層鎳測(cè)試儀/法拉第測(cè)厚儀COULOSCOPE® CMS STEP儀器高的電壓分辨率可以測(cè)量頂層為微孔鎳或微裂紋鎳與下層光亮鎳之間的電位，以及光亮鎳和半光亮鎳之間的電位。（若需要，還可以是光亮鎳和半光亮鎳之間的高的硫化鎳）
庫侖法電位差/多層鎳測(cè)試儀/法拉第測(cè)厚儀COULOSCOPE® CMS STEP優(yōu)點(diǎn)：
快速測(cè)試結(jié)果（比較于非常花費(fèi)時(shí)間的鹽霧測(cè)試機(jī)）
近100個(gè)預(yù)定義的測(cè)量程式（從例如鐵上鍍鋅的單鍍層到例如合成材料上鍍鉻，鎳，銅的三鍍層）
測(cè)量單元安排獨(dú)特。這一正在申請(qǐng)的設(shè)計(jì)確保了參考電極與被測(cè)工件?reg;間始終相等的距離。這對(duì)于重復(fù)精度，測(cè)量精度是非常重要的
測(cè)量單元無需復(fù)雜調(diào)整
界面友好，菜單指引
采用根據(jù)DIN EN ISO 2177和ASTM B764-94標(biāo)準(zhǔn)的庫侖測(cè)試方法。如此，不僅銅鍍層，多層鎳鍍層以及鉻鍍層的厚度，而且鎳鍍層?reg;間的電化學(xué)電位都可以輕松測(cè)出。
大顯示屏，清晰的鍵盤
庫侖法電位差/多層鎳測(cè)試儀/法拉第測(cè)厚儀COULOSCOPE® CMS STEP應(yīng)用領(lǐng)域：
同時(shí)測(cè)量雙層鎳或三層鎳鍍層的厚度和電化學(xué)電位。
幾乎可以測(cè)量所有金屬或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，甚是多鍍層系統(tǒng)。
在工業(yè)和特殊領(lǐng)域內(nèi)的具體應(yīng)用范圍：
電鍍工業(yè)中的產(chǎn)品監(jiān)控；由于新穎電極簡(jiǎn)便的操作，該儀器地適用于電鍍車間繁雜的工作環(huán)境！
成品的入庫檢驗(yàn)，例如汽車工業(yè)中鉻合金輪轂澆筑件（帶雙層鎳）。
庫侖法電位差/多層鎳測(cè)試儀/法拉第測(cè)厚儀COULOSCOPE® CMS STEP采用標(biāo)準(zhǔn)：該多層鎳測(cè)厚儀器根據(jù)庫侖電量分析法進(jìn)行測(cè)量，符合 DIN EN ISO 2177、50022 和ASTM B764標(biāo)準(zhǔn)，ASTM B764-94標(biāo)準(zhǔn)圖示如下：
庫侖法電位差/多層鎳測(cè)試儀/法拉第測(cè)厚儀COULOSCOPE® CMS STEP通過電位差測(cè)試儀器可以簡(jiǎn)便的對(duì)鎳鍍層之間的電化學(xué)的電位差進(jìn)行測(cè)量。 可以用于測(cè)量銅基層、鎳多層涂層和鉻涂層的厚度。測(cè)量界面如下：
庫侖法電位差/多層鎳測(cè)試儀/法拉第測(cè)厚儀COULOSCOPE® CMS STEP測(cè)量臺(tái)選擇：
庫侖法電位差/多層鎳測(cè)試儀/法拉第測(cè)厚儀COULOSCOPE® CMS STEP部分標(biāo)準(zhǔn)片附件描述：
庫侖標(biāo)準(zhǔn)片 Cr /Fe,Ni,Al、Cr：0.1 - 0.3 μm、測(cè)量面積：60 mm×50 mm、分隔為25個(gè)方形區(qū)域，分別標(biāo)定帶證書
庫侖標(biāo)準(zhǔn)片 Cu/Fe 10-15um、Cu：10 - 15 μm、測(cè)量面積：60 mm×50 mm、分隔為25 個(gè)方形區(qū)域，分別標(biāo)定帶證書
庫侖標(biāo)準(zhǔn)片 Ni/Cu 6-9um、Ni：6 - 9 μm、測(cè)量面積：60 mm×50 mm、分隔為25 個(gè)方形區(qū)域，分別標(biāo)定帶證書
庫侖標(biāo)準(zhǔn)片 STEP、光亮鎳：6 μm 左右、半光亮鎳：10 μm 左右、測(cè)量面積：60 mm×50 mm、分隔為25 個(gè)方形區(qū)域、分別標(biāo)定帶證書
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其他測(cè)試儀器：色彩色差儀、鐵素體測(cè)試儀、頻閃測(cè)速儀。
